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集成电路老炼测试插座

中电科

集成电路老炼测试插座

        中国电科四十所是国内最早研发集成电路装机用及老炼测试插座的单位之一。“八五”期间,进行了技术攻关,研发了装机和老炼测试用集成电路插座,有单列(SIP)、双列(DIP)及矩阵式(PGA)等插座;“九五”以一,为了顺应大规模及超大规模集成电路的发展,我所研发了用于表贴式的老炼测试插座,适用封装形式分别为SOP(FP)系列、LCC系列、QFP系列、BGA系列等,接触件的节距有1.27mm、1.0mm、0.635mm、0.5mm等,特别是“十一五”期间我所承担了型谱项目“CQFP系列老炼测试插座”研发工作,随着项目的设计定型,使我所具备了研发节距为0.5mm的老炼测试插座的能力。

        我所生产设备和检测手段齐备,技术力量雄厚,具有产品开发设计、研制和批量生产能力。我所可根据用户的需求,开发、研制、生产各种新产品,始终把满足用户的需求作为最终目标,为国内外集成电路器件用户竭诚服务。