元器件检验组拥有各类检测设备共10余台,能对各类集成电路,半导体分立器件,高精度电阻电容电感进行精确测量,另外质量部环境试验室拥有高低温试验,温度冲击箱能满足各类器件老化筛选的需要.每年检验各类进所元器件共计五千多项二百万件.其中主要检测设备如下:
SP-3160Ⅲ超大规模集成电路测试系统是一个计算机辅助的，具有高度模块化结构的新型大规模集成电路综合测试系统。该系统以数字L S I测试模块为核心，通过配接存贮器测试选件和模拟IC测试选件，可快速、精确、全面的对各类大、中、小规模的随机逻辑数字集成电路、通用线性IC及数字/模拟混合IC的直流参数、动态功能及交流参数进行测量和测试。主要技术指标：
JC-3190分立器件测试系统可快速、准确、全面地对二极管、三极、可控硅、达林顿管、场效应管、整流桥、光电藕合器等功率器件进行全参数测量和分析测试，测试系统根据功率器件的测试特点提供加压测流、加流测压、测压、测流等通用测量模式，以及针对二极管、三极管测试的标准测量模式；可通过GPIB接口或232接口外接高精度数字电压表等通用测量仪器仪表对系统自动进行精度校准，并可由此追溯国家二级计量标准。主要技术指标：
Agileng4287A射频LCR测试仪，可以射频范围（1MHz~3GHz）和电平范围(5mV~2Vrms,50μA~200mA)内对阻抗、电感、电容、电阻、电导、损耗因子、品质因子、等效串联阻抗、等效并联阻抗、电抗、电纳、相位角等参数进行精确测试。
AV2782型LCR测试仪是精密的LCR测试仪，可以在很宽的频率范围（75kHz~30MHz）和电平范围(5mV~2Vrms,200μA~20mA)内对阻抗、电感、电容、电阻、电导、损耗因子、品质因子、等效串联阻抗、等效并联阻抗、电抗、电纳、相位角等参数进行精确测试。主要技术参数：
质检中心EMC试验室由标准三米法微波暗室、控制室和功放室三部分组成。试验室配备了专业的EMI和EMS测试系统，能够按照GJB151、GB4824和GB/T17626进行共计11项电磁兼容测试，具体测试能力如下：
序号 测试项目名称 依据标准
